Takai Laboratory Department of Material and Life Science, Graduate School of Engineering, Osaka University
卒業研究
2019年度
TEMにおける電流型焦点位置変調に関する研究
田中 裕貴
再構成波動場を用いた結晶質試料中ナノボイドの深さ位置判別
花ア 拓真
透過電子顕微鏡における試料ステージ高さ調整用補助システムの開発
本村 諒
2018年度
収差補正した再構成波動場を利用した結晶性試料の厚み情報取得に関する研究
谷井 郁弥
収差補正波動場を利用したナノ構造欠陥の三次元評価
徳岡 健人
再構成波動場を用いた金多重双晶粒子の面内歪みの計測
矢部 中
2017年度
透過電子顕微鏡(TEM)における電子線照射角自動調整に関する研究
梶 玲哉
2016年度
位相コントラスト伝達特性を利用した試料高さ位置の精密計測
櫻庭 千夏
単層グラフェン上に担持した金サブナノクラスターの波動場再構成
永島 爽快
2015年度
実時間波動場再構成処理像を利用した試料構造変化の原子レベル可視化技術の開発
豊島 侑
2014年度
銅フタロシアニン薄膜結晶の電子線損傷に関する研究
豊蔵 悠史
Ptychography法を用いた位相差電子顕微鏡法に関する研究
平林 祐太
2013年度
3次元フーリエフィルタリング法を利用した試料高さ位置の精密測定
稲盛 真幸
透過電子顕微鏡の無収差結像に関する基礎的研究
渡邊 友加里
2012年度
3次元フーリエフィルタリング法による試料の3次元情報の取得
末貞 昌英
コバルト微粒子を用いたグラフェン生成過程の原子レベルその場観察
田村 孝弘
2011年度
スパッタ深さプロファイルにおける界面領域の非対称性と界面位置の相関
中根 志学
透過型電子顕微鏡用CCD撮像素子の量子検出効率に関する研究
藤間 翔悟
2010年度
MgO膜への酸素吸着によるイオン誘起二次電子収率の変化
小出 博仁
波動場再構成法によるグラフェンに担持されたCoナノクラスターの観察
齋藤 裕幸
ミニマムドーズシステムを用いたハロイサイトの高分解能TEM観察
森 潔史
2009年度
MgO膜のカソードルミネッセンススペクトル及びイオン誘起二次電子収率の加熱による変化
Zjargal Jargalsaikhan
グラファイトを生成しているコバルト微粒子の球面収差補正TEM観察
櫻田 剛
2008年度
透過型電子顕微鏡における電子ビームブランキングの高速化に関する研究
富樫 渉
傾斜照明下における3次元フーリエフィルタリング法に関する研究
中谷 文弥
Sc-O/W(100)陰極の電子放出特性測定系の試作
永田 清雅
2007年度
金属酸化物薄膜のイオン誘起二次電子収率の膜厚依存性
川畑 拓
輪帯対物絞りを導入した動的ホローコーン照明による無収差電子顕微鏡法
北出 晃平
2006年度
シリコンドリフト検出器によるコインシデンス検出に関する研究
木澤 裕志
酸化コバルト微粒子を用いたグラファイト生成過程の原子レベルその場観察
八尋 孝典
透過型電子顕微鏡における電子線ブランカーの高速化に関する研究
山内 郁馬
2005年度
SiO
2
表面の炭素汚染と電子線照射損傷
桑山 剛
透過型電子顕微鏡における傾斜証明法による分解能の向上に関する研究
吉森 宏雅
2004年度
Sc-O/W(100)最表面組成の加熱温度依存性
稲住 肇
低速イオンの連続照射による集束イオンビーム誘起ダメージ層の除去
白石 和久
透過型電子顕微鏡によるポリスチレンラテックスの電子線損傷評価
柳井 俊浩
2003年度
シリコンドリフト検出器(SDD)によるX線検出時間精度に関する研究
木田 年紀
Sc-O/W(100)系の表面キャラクタリゼーション
中西 洋介
MgO薄膜からのイオン誘起二次電子放出
中山 勝博
CCD素子による電子の直接検出に関する研究
深堀 奏子
2002年度
浮遊型結像エネルギーフィルタにおける像移動補正に関する研究
近田 秀和
透過型電子顕微鏡における線形成分、非線形成分の分離
野間口恒典
深さ方向分析におけるMRIモデルの改良
文後 卓也
2001年度
透過型電子顕微鏡における3次元干渉強度分布に関する研究
田屋 昌樹
浮遊型結像エネルギーフィルターにおける電圧変調に関する研究
時田 直人
波形計測によるX線検出システムの時間精度に関する研究
林田 美咲
環境制御型走査型電子顕微鏡(ESEM)における二次電子増幅率の測定
日比 孝明
2000年度
カソードルミネッセンス走査型電子顕微鏡を用いたポーラスシリコンの発光特性に関する研究
小嶋 達也
浮遊型結像エネルギーフィルタによる実時間差分EELS法に関する研究
嶋崎 裕介
透過型電子顕微鏡用環境セルにおける超薄真空隔壁膜の作製
豊永 亮
波形計測によるSi(Li)半導体X線検出器の検出時間精度に関する研究
西中 健一
1999年度
集束イオンビームを利用したタングステン膜の局所領域への蒸着
岩本 圭吾
透過型電子顕微鏡によるGe/CoSi
2
/Si界面の原子レベルでの観察
大伴 卓己
X線スペクトル計算モンテカルロシミュレーションの定量的評価
嶋田 智和
γ型エネルギーフィルターを用いたコインシデンス電子顕微鏡観察
東 由果子
デフォーカス変調法を用いた極薄SiO
2
膜の断面TEM観察
矢村 功
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