卒業研究


2015

  • 実時間波動場再構成処理像を利用した試料構造変化の原子レベル可視化技術の開発
    豊島 侑

2014

  • 銅フタロシアニン薄膜結晶の電子線損傷に関する研究
    豊蔵 悠史
  • Ptychography法を用いた位相差電子顕微鏡法に関する研究
    平林 祐太

2013

  • 3次元フーリエフィルタリング法を利用した試料高さ位置の精密測定
    稲盛 真幸
  • 透過電子顕微鏡の無収差結像に関する基礎的研究
    渡邊 友加里

2012

  • 3次元フーリエフィルタリング法による試料の3次元情報の取得
    末貞 昌英
  • コバルト微粒子を用いたグラフェン生成過程の原子レベルその場観察
    田村 孝弘

2011

  • スパッタ深さプロファイルにおける界面領域の非対称性と界面位置の相関
    中根 志学
  • 透過型電子顕微鏡用CCD撮像素子の量子検出効率に関する研究
    藤間 翔悟

2010

  • MgO膜への酸素吸着によるイオン誘起二次電子収率の変化
    小出 博仁
  • 波動場再構成法によるグラフェンに担持されたCoナノクラスターの観察
    齋藤 裕幸
  • ミニマムドーズシステムを用いたハロイサイトの高分解能TEM観察
    森 潔史

2009

  • MgO膜のカソードルミネッセンススペクトル及びイオン誘起二次電子収率の加熱による変化
    Zjargal Jargalsaikhan
  • グラファイトを生成しているコバルト微粒子の球面収差補正TEM観察
    櫻田 剛

2008

  • 透過型電子顕微鏡における電子ビームブランキングの高速化に関する研究
    富樫 渉
  • 傾斜照明下における3次元フーリエフィルタリング法に関する研究
    中谷 文弥
  • Sc-O/W(100)陰極の電子放出特性測定系の試作
    永田 清雅

2007

  • 金属酸化物薄膜のイオン誘起二次電子収率の膜厚依存性
    川畑 拓
  • 輪帯対物絞りを導入した動的ホローコーン照明による無収差電子顕微鏡法
    北出 晃平

2006

  • シリコンドリフト検出器によるコインシデンス検出に関する研究
    木澤 裕志
  • 酸化コバルト微粒子を用いたグラファイト生成過程の原子レベルその場観察
    八尋 孝典
  • 透過型電子顕微鏡における電子線ブランカーの高速化に関する研究
    山内 郁馬

2005

  • SiO2表面の炭素汚染と電子線照射損傷
    桑山 剛
  • 透過型電子顕微鏡における傾斜証明法による分解能の向上に関する研究
    吉森 宏雅

2004

  • Sc-O/W(100)最表面組成の加熱温度依存性
    稲住 肇
  • 低速イオンの連続照射による集束イオンビーム誘起ダメージ層の除去
    白石 和久
  • 透過型電子顕微鏡によるポリスチレンラテックスの電子線損傷評価
    柳井 俊浩

2003

  • シリコンドリフト検出器(SDD)によるX線検出時間精度に関する研究
    木田 年紀
  • Sc-O/W(100)系の表面キャラクタリゼーション
    中西 洋介
  • MgO薄膜からのイオン誘起二次電子放出
    中山 勝博
  • CCD素子による電子の直接検出に関する研究
    深堀 奏子

2002

  • 浮遊型結像エネルギーフィルタにおける像移動補正に関する研究
    近田 秀和
  • 透過型電子顕微鏡における線形成分、非線形成分の分離
    野間口恒典
  • 深さ方向分析におけるMRIモデルの改良
    文後 卓也

2001

  • 透過型電子顕微鏡における3次元干渉強度分布に関する研究
    田屋 昌樹
  • 浮遊型結像エネルギーフィルターにおける電圧変調に関する研究
    時田 直人
  • 波形計測によるX線検出システムの時間精度に関する研究
    林田 美咲
  • 環境制御型走査型電子顕微鏡(ESEM)における二次電子増幅率の測定
    日比 孝明

2000

  • カソードルミネッセンス走査型電子顕微鏡を用いたポーラスシリコンの発光特性に関する研究
    小嶋 達也
  • 浮遊型結像エネルギーフィルタによる実時間差分EELS法に関する研究
    嶋崎 裕介
  • 透過型電子顕微鏡用環境セルにおける超薄真空隔壁膜の作製
    豊永 亮
  • 波形計測によるSi(Li)半導体X線検出器の検出時間精度に関する研究
    西中 健一

1999

  • 集束イオンビームを利用したタングステン膜の局所領域への蒸着
    岩本 圭吾
  • 透過型電子顕微鏡によるGe/CoSi2/Si界面の原子レベルでの観察
    大伴 卓己
  • X線スペクトル計算モンテカルロシミュレーションの定量的評価
    嶋田 智和
  • γ型エネルギーフィルターを用いたコインシデンス電子顕微鏡観察
    東 由果子
  • デフォーカス変調法を用いた極薄SiO2膜の断面TEM観察
    矢村 功
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