プラズマディスプレイパネル(PDP)用MgO薄膜からの二次電子放出と評価

PDPは薄型軽量で大画面化が容易という優れた特性を持つことから、次世代の情報化社会を支えるディスプレイデバイスとして盛んに研究開発が進められています。現在では、高精細化に加えて低消費電力化・低コスト化が今後の課題と言われており、そのカギを握るのが右図に示すMgO保護層の性能です。しかしながらMgOは絶縁体であるため、確固とした評価方法が殆どありません。

そこで私たちは、PDP用MgO薄膜の原子レベルキャラクタリゼーションによる新しい評価方法の確立と、それを用いた高性能MgO薄膜の開発を目指した研究を行っています。